PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀是材料科學和發展的領域中Z廣泛使用的表面分析技術。其原理是利用X射線束（一般會使鋁陽極或鎂陽極）作為入射源，照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發出。根據測得的光電子所發出的電子動能，再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能，從而也就可知道樣品表面是何物質。

日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。

布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下，Z大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環境 TEM 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借*的差動泵目鏡，標本區可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態及相互作用。在需要時，Titan ETEM 還可作為標準 S/TEM 開展原子級別成像。

FEI Nova Nano SEM 場發射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司市場的眾多設備中的一員，Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發與生產的相關工作提供了更多的可能。

蔡司 Axio Vert.A1 倒置式材料金相顯微鏡是全新一代研究級倒置萬能是全新一代研究級倒置萬能材料顯微鏡Axio Vert.A1開創了研究級倒置式顯微鏡產品，完善的科勒式照明系統將光學系統的功能發揮得*，為您提供*圖像質量，穩固的產品設計與人機工程學理念相融合