FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環境 TEM 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借*的差動泵目鏡，標本區可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態及相互作用。在需要時，Titan ETEM 還可作為標準 S/TEM 開展原子級別成像。

FEI Nova Nano SEM 場發射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司市場的眾多設備中的一員，Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發與生產的相關工作提供了更多的可能。

FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩定分辨率平臺，可滿足大多數研究的需要。

蔡司 Gemini SEM場發射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統、*的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合，可在Z大限度地提升光學性能的同時將場發射對樣品的損傷降至Z低。

蔡司 SIGMA高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500/VP專注于*的EDS幾何學設計使您可以獲取*的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測工作，EVO MA 15作為一款研究級掃描電鏡能夠為您提供Z*的視覺圖像和Z廣泛的應用領域。