賽默飛 MICROLAB 350場發射俄歇電子譜儀是一款高性能的，具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀（AES）。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射（SAM）分辨率12納米。

PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設備。維持基于PHI CMA的核心俄歇儀器性能，和響應了用戶所要求以提高二次電子（SE）成像性能和高能量分辨率光譜。

PHI 4700 AES俄歇分析儀在開發新材料及薄膜制程上，為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問題，材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。