PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上，該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率（在實踐中通常是大約 10000amu）。